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錯(cuò)誤:吸頭與移液器不匹配,影響氣密性正確:選用與移液器匹配的,有質(zhì)量保證的吸頭分析:吸頭的不匹配,主要表現(xiàn)為對(duì)氣密性的影響。會(huì)直接影響移液器的性,通常會(huì)移液操作會(huì)小于設(shè)定量。
查看全文(1)調(diào)節(jié)旋鈕到所需刻度位置,訣竅:首先可略超過(guò)一些,再回旋至刻度。注意禁止超過(guò)大刻度,避免人為誤差。(2)插上tip:無(wú)菌操作時(shí),要注意動(dòng)作迅速正確,不能用手碰tip,動(dòng)作的力度要保持一致,禁止廢動(dòng)作。普通操作時(shí),可用拇指食指上緊,但手不能碰tip處。(3)指壓到段,tip接觸試劑。白色tip進(jìn)到液面1mm一下,黃色tip2-3mm,藍(lán)色tip2-4mm,避免液壓的影響造成的誤差。(4)緩慢吸試劑,禁止速度過(guò)快,液體進(jìn)入槍頭。(5)移出液面后,在容器內(nèi)壁輕按幾下,使外壁液體...
查看全文(1)調(diào)節(jié)旋鈕到所需刻度位置,訣竅:首先可略超過(guò)一些,再回旋至刻度。注意禁止超過(guò)大刻度,避免人為誤差。(2)插上tip:無(wú)菌操作時(shí),要注意動(dòng)作迅速正確,不能用手碰tip,動(dòng)作的力度要保持一致,禁止廢動(dòng)作。普通操作時(shí),可用拇指食指上緊,但手不能碰tip處。(3)指壓到段,tip接觸試劑。白色tip進(jìn)到液面1mm一下,黃色tip2-3mm,藍(lán)色tip2-4mm,避免液壓的影響造成的誤差。(4)緩慢吸試劑,禁止速度過(guò)快,液體進(jìn)入槍頭。(5)移出tip后,先在容器內(nèi)壁輕輕靠住,使ti...
查看全文納米顆粒追蹤表征的工作原理:分析原理:納米顆粒追蹤分析技術(shù),利用光散射原理,不同粒徑顆粒的散射光成像在CCD上的亮度和光斑大小不一樣,依此來(lái)確定粒徑尺寸;合適濃度的樣品均質(zhì)分散在液體中可以得出粒徑尺寸分布和顆粒濃度信息,準(zhǔn)確度非常高。
查看全文X射線衍射儀技術(shù)(XRD)注意事項(xiàng):(1)固體樣品表面>10×10mm,厚度在5μm以上,表面必須平整,可以用幾塊粘貼一起。(2)對(duì)于片狀、圓拄狀樣品會(huì)存在嚴(yán)重的擇優(yōu)取向,衍射強(qiáng)度異常,需提供測(cè)試方向。(3)對(duì)于測(cè)量金屬樣品的微觀應(yīng)力(晶格畸變),測(cè)量殘余奧氏體,要求制備成金相樣品,并進(jìn)行普通拋光或電解拋光,消除表面應(yīng)變層。(4)粉末樣品要求磨成320目的粒度,直徑約40微米,重量大于5g。
查看全文X射線衍射儀技術(shù)(XRD)可為客戶解決的問(wèn)題:(1)當(dāng)材料由多種結(jié)晶成分組成,需區(qū)分各成分所占比例,可使用XRD物相鑒定功能,分析各結(jié)晶相的比例。(2)很多材料的性能由結(jié)晶程度決定,可使用XRD結(jié)晶度分析,確定材料的結(jié)晶程度。(3)新材料開(kāi)發(fā)需要充分了解材料的晶格參數(shù),使用XRD可快捷測(cè)試出點(diǎn)陣參數(shù),為新材料開(kāi)發(fā)應(yīng)用提供性能驗(yàn)證指標(biāo)。(4)產(chǎn)品在使用過(guò)程中出現(xiàn)斷裂、變形等失效現(xiàn)象,可能涉及微觀應(yīng)力方面影響,使用XRD可以快捷測(cè)定微觀應(yīng)力。(5)納米材料由于顆粒細(xì)小,極易形成團(tuán)...
查看全文X射線衍射XRD工作原理:分析原理:X射線是原子內(nèi)層電子在高速運(yùn)動(dòng)電子的轟擊下躍遷而產(chǎn)生的光輻射,主要有連續(xù)X射線和特征X射線兩種。晶體可被用作X光的光柵,這些很大數(shù)目的原子或離子/分子所產(chǎn)生的相干散射將會(huì)發(fā)生光的干涉作用,從而影響散射的X射線的強(qiáng)度增強(qiáng)或減弱。由于大量原子散射波的疊加,互相干涉而產(chǎn)生大強(qiáng)度的光束稱(chēng)為X射線的衍射線。
查看全文電感耦合高頻等離子體ICP工作原理分析原理:利用氬等離子體產(chǎn)生的高溫使用試樣*分解形成激發(fā)態(tài)的原子和離子,由于激發(fā)態(tài)的原子和離子不穩(wěn)定,外層電子會(huì)從激發(fā)態(tài)向低的能級(jí)躍遷,因此發(fā)射出特征的譜線。通過(guò)光柵等分光后,利用檢測(cè)器檢測(cè)特定波長(zhǎng)的強(qiáng)度,光的強(qiáng)度與待測(cè)元素濃度成正比。
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